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光谱共焦传感器多峰值测量厚度允许范围
发布时间:2017-09-29   点击次数:224次
   光谱共焦传感器多峰值测量厚度允许范围
  
  光谱共焦传感器透明物体单侧厚度测量
  
  源于光谱共焦测量原理,用户可以从一侧测量透明物体的厚度。仅用一支光谱共焦位移传感器,用户可以获得微米级别测量精度。控制器预存可编辑,可扩展的材料库。材料的光学特性,如折射率可以通过网络界面存储和编辑,无需安装额外软件。多峰值测量允许多个峰值,可以测量多层被测物(如夹层玻璃)的厚度。
  
  光谱共焦传感器注意点:
  
  1)被测物反光特性。光谱共焦传感器是同轴测量,对白光光谱分解后,不同的位置会对应不同的光谱成分。所以反光特性对测量影响特别大。可以通过调节曝光时间和测量频率来进行调节。
  
  2)精度的选择。光谱共焦传感器有个特点,精度跟量程有关系。在可能的情况下,选择小的量程会带来更高的测量精度。但是也意味着更高的安装难度。

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